Werth*家將X射線掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)，WERTH X射線工業(yè)CT斷層掃描測(cè)量?jī)x可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無(wú)損可視化準(zhǔn)確測(cè)量，并可選配光學(xué)、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對(duì)工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸全面的高精密測(cè)量，同時(shí)可實(shí)現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析。